扫描电子显微镜（SEM）利用聚焦电子束在样品表面逐点扫描，接收二次电子与背散射电子信号成像，可在微米至纳米尺度观察土颗粒形态、孔隙与胶结结构。
摘录1 / 26出自「岩土工程新技术 · 第1章 土工测试技术新进展」顺序练习摘录返回文档扫描电子显微镜（SEM）利用聚焦电子束在样品表面逐点扫描，接收二次电子与背散射电子信号成像，可在微米至纳米尺度观察土颗粒形态、孔隙与胶结结构。解释相比光学显微镜，SEM 分辨率高、景深大，适合观察非均质土体的表面形貌与颗粒排列特征。记忆法SEM：电子束扫描 → 二次/背散射电子 → 微结构成像。出处：1
