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  5. 1.1 扫描电子显微镜测试技术
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  7. SEM 观察为二维投影或表面信息,对深部三维孔隙网络需结合 CT 或 FIB-SEM 断层重建;定量孔隙率仍应通过压汞、气体吸附等独立方法校验。

摘录5 / 5

出自「岩土工程新技术 · 1.1 扫描电子显微镜测试技术」

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SEM 观察为二维投影或表面信息,对深部三维孔隙网络需结合 CT 或 FIB-SEM 断层重建;定量孔隙率仍应通过压汞、气体吸附等独立方法校验。

解释

不同放大倍数下同一视场结论可能不同,应注明放大倍数、加速电压与工作距离等测试条件。

记忆法

SEM 看表面;三维孔隙要 CT;孔隙率要独立测。

出处:5

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  1. 扫描电子显微镜(SEM)利用聚焦电子束在样品表面逐点扫描,接收二次电子与背散射电子信号成像,可在微米至纳米尺度观察土颗粒形态、孔隙与胶结结构。

  2. 土工 SEM 制样通常需控制含水状态:非饱和样可冷冻干燥或置换干燥以尽量保持原状结构;观察导电性差的无机土样时,常喷镀薄层金或碳以消除荷电。

  3. SEM 背散射电子像可反映元素原子序数差异,常用于区分黏土矿物、石英颗粒与铁锰氧化物胶结;二次电子像更突出表面形貌与孔隙连通性。

  4. SEM 在岩土工程中可用于:判识黏土颗粒片理与定向排列、砂土颗粒磨圆度与表面微裂隙、固化/加固后胶结产物形态,以及细粒土团聚体稳定性研究。

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